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bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100PX 4731
白光干涉儀PX 3560
FR-pRoThetametrisis膜厚測量儀PX 7265
S neox 0.65XSensofar平面度測量白光干涉儀PX 3360
WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器PX 2422
SuperViewW1白光干涉3D顯微測量儀PX 4446
DFTQA實驗室干膜厚度質(zhì)量保證系統(tǒng)PX 2443
AE-100M蘇州萬濠白光干涉儀 AE-100MPX 2804
F20-Filmetrics光學膜厚測量儀PX 2609
SR-C反射膜厚儀PX 1750
專業(yè)銷售 Talysurf CCI白光干涉表面輪廓儀PX 2220
Lambda Vision TFW-100分光膜厚儀PX 2428
FSM 413紅外干涉測量設(shè)備PX 2814
WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器PX 2785
FR-Scanner自動化高速薄膜厚度測量儀PX 7265
Sensofar 集成式3D共焦白光干涉儀測量頭PX 3360
S mart2Sensofar 集成式3D白光干涉共聚焦測量頭PX 3360
FR-pRo:Thetametrisis膜厚測量儀PX 7265
FR-Scanner:自動化高速薄膜厚度測量儀PX 7265
FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150-自動化高速薄膜厚度測量儀PX 7265
FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150自動化高速薄膜厚度測量儀PX 7265
F50Filmetrics 自動化厚度測量儀PX 7265
F10-HCFilmetrics 薄膜厚度測量儀PX 7265
F20Filmetrics薄膜厚度測量儀PX 7265
WIP德國Werth WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器PX 2422
FWS 涂層厚度與膜重測試站PX 2443
SuperViewW1納米級白光干涉三維形貌分析測量儀PX 4446
ACS 金屬罐涂層厚度和膜重測量系統(tǒng)PX 2443
SuperViewW1納米級白光干涉三維測量儀PX 4446
高級實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)PX 2443
增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)PX 2443
SuperViewW1三維形貌顯微白光干涉儀PX 4446
SuperViewW1白光干涉儀三維表面測量系統(tǒng)PX 4446
F54-XY-200薄膜厚度測量儀PX 2609
F32-Filmetrics光學膜厚測量儀PX 2609
F54-XYT-300薄膜厚度測量儀PX 2609
SuperViewW1國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀PX 4446
SR-M顯微膜厚儀PX 1750
RT-V反射透射測量儀PX 1750
SR-Mapping反射膜厚儀PX 1750
粒度儀
試驗箱
試驗機
熱分析儀器
無損檢測
燃燒測定儀
測厚儀
硬度計
流變儀/粘度計
表面/界面性能測定儀
磁學測量儀器
其它物性測試分析儀器
白光干涉3D顯微測量儀
納米級白光干涉三維形貌分析測量儀
納米級白光干涉三維測量儀
Sensofar 集成式3D白光干涉共聚焦測量頭
實驗室干膜厚度質(zhì)量保證系統(tǒng)
FWS 涂層厚度與膜重測試站
ACS 金屬罐涂層厚度和膜重測量系統(tǒng)
增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)
Thetametrisis膜厚測量儀
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賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學儀器有限公司
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